BS ISO 2382/13-1990 数据处理.词汇.第13部分:计算机图解

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【英文标准名称】:TestMethodforThicknessofLightlyDopedSiliconEpitaxialLayersonHeavilyDopedSiliconSubstratesUsinganInfraredDispersiveSpectrophotometer
【原文标准名称】:用红外线反射法测定同类基质上硅的外延层厚度的试验方法
【标准号】:ASTMF95-1989
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1989
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:硅;分光光度计;电子工程;厚度;层;红外线;试验;衬底(绝缘)
【英文主题词】:thickness;infra-red;testing;electronicengineering;substrates(insulating);spectrophotometer;layers;silicon
【摘要】:
【中国标准分类号】:H80
【国际标准分类号】:29_040_30
【页数】:7P;A4
【正文语种】:英语

标准名称：	连续电磁剖面法勘探技术规程
英文名称：	Technical Specifications for Continuous Electro Magnetic Profiling
中标分类：	矿业 >> 地质矿产勘察与开发 >> 非技术矿产勘察
ICS分类：	采矿和矿产品 >> 采矿和挖掘
替代情况：	替代SY/T 6289-1997
发布部门：	国家发展和改革委员会
发布日期：	2006-07-10
实施日期：	2007-01-01
首发日期：
作废日期：
主管部门：	国家发展和改革委员会
提出单位：	石油物探专业标准化技术委员会
归口单位：	石油物探专业标准化技术委员会
起草单位：	中国石油东方地球物理勘探有限责任公司东部勘探事业部
起草人：	何展翔、葛运华、何雪军
出版社：	石油工业出版社
出版日期：	2007-01-01
页数：	15页
批文号：	18069-2006
书号：	155021·5982

本标准规定了连续电磁剖面法(CEMP)技术设计、野外施工、资料处理和解释等工作的基本要求。本标准适用于陆上油气连续电磁剖面法(CEMP)勘探。

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